New York - Aeroporto internazionale John F. Kennedy - Trans world arlines terminal - Eero Saarinen

Hammacher, Arno

New York - Aeroporto internazionale John F. Kennedy - Trans world arlines terminal - Eero Saarinen

Descrizione

Autore: Hammacher, Arno (1927-2016), fotografo principale

Luogo e data della ripresa: New York, Stati Uniti d'America, 16/10/1963

Materia/tecnica: stampa ai pigmenti/carta

Misure: 30 x 40

Collocazione: Milano (MI), Regione Lombardia, fondo Hammacher, AHM_23_STPGC_TQ

Classificazione

Genere: architettura

Soggetto: architettura; ingegneria civile e militare; trasporti

Credits

Compilazione: Tonti, Stella (2002)

Aggiornamento: Tonti, Stella (2007)

  Scheda completa SIRBeC (formato PDF)

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