New York - Aeroporto internazionale John F. Kennedy - Trans world arlines terminal - Eero Saarinen
Hammacher, Arno
Descrizione
Autore: Hammacher, Arno (1927-2016), fotografo principale
Luogo e data della ripresa: New York, Stati Uniti d'America, 16/10/1963
Materia/tecnica: stampa ai pigmenti/carta
Misure: 30 x 40
Collocazione: Milano (MI), Regione Lombardia, fondo Hammacher, AHM_23_STPGC_TQ
Classificazione
Genere: architettura
Soggetto: architettura; ingegneria civile e militare; trasporti
Credits
Compilazione: Tonti, Stella (2002)
Aggiornamento: Tonti, Stella (2007)
Scheda completa SIRBeC (formato PDF)
Link risorsa: https://lombardiabeniculturali.it/fotografie/schede/IMM-LOM60-0024661/
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